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Interfaces, Mutimatériaux, Sources et Optique X

19/02/2018

Here is the photography of the team (SU = Sorbonne Université).

(1) Jiaping ZHANG, PhD student, SU - NWPU Xi'an

(2) Bingxin LI, Master 1 student, NWPU Xi'an

(3) Meiyi WU, PhD student, SU

(4) Karine LE GUEN, MdC / Assitant professor, SU

(5) Philippe JONNARD, DR / Research director, CNRS

(6) Fei ZHOU, Master 1 student, NWPU Xi'an

(7) Christopher PENDENQUE, Master 2 student, SU

Photo-team-feb-2018


24/01/2018

Nous proposons une communication à la conférence / we propose a communication to the conference

Chemistry 2018, Paris, 19-20 February 2018, https://chemistry.euroscicon.com/

- X-ray standing wave technique applied in the characterization of periodic multilayers

M.-Y. Wu, K. Le Guen, J.-M. André, P. Jonnard

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23/11/2017

Notre collègue Jean-Michel a organisé son pot de départ. Nous lui souhaitons de profiter longuement de sa retraite bien méritée.

 


10/11/2017

Nous proposons une communication à la conférence / we propose a communication to the conference

ICUSD2017, 4th Int. Conf. on Ultrafast Structural Dynamics, Trieste, Italy, 5 – 7 December 2017

https://www.elettra.trieste.it/Conferences/2017/ICUSD/

Stimulated emission in MgO following irradiation by EUV FEL pulses at FERMI

P. Jonnard, J.-M. André, K. Le Guen, E. Principi, A. Simoncig, A. Gessini, R. Mincigrucci, C. Masciovecchio, O. Peyrusse

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06/11/2017

Nous venons de publier un article dans la revue Optical Engineering / We have just published a paper in Optical Engineering

Study of Cr/Sc-based multilayer reflecting mirrors using soft x-ray reflectivity and standing wave enhanced x-ray fluorescence

M.-Y. Wu, C. Burcklen, J.-M. André, K. Le Guen, A. Giglia, K. Koshmak, S. Nannarone, F. Bridou, E. Meltchakov, S. de Rossi, F. Delmotte, P. Jonnard

Opt. Eng. 56, 117101 (2017) (http://dx.doi.org/10.1117/1.OE.56.11.117101

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01630278/


31/10/2017

Nous proposons deux communications à la conférence / we propose two communications to the conference

3NANO2017, fourth international conference on Nanoscience, Nanotechnology and Nanobiotechnology, Paris, 10-14 décembre 2017, www.3nano2017.net

- Study of nano-scale superlattices by proton induced Kossel diffraction

M.-Y. Wu, K. Le Guen, J.-M. André, P. Jonnard, I. Vickridge, D. Schmaus, E. Briand, P. Walter, Q.-S. Huang, Z.-S. Wang

- Characterization of nano-scale multilayers by HAXPES under x-ray standing wave effect

M.-Y. Wu, V. Ilakovac, J.-M. André, K. Le Guen, A. Giglia, J.-P. Rueff, Q.-S. Huang, Z.-S. Wang, P. Jonnard

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22/09/2017

Nous proposons une conférence invitée à la conférence / we propose an invited communication to the conference

IBA2017, 23rd Int. Conf. on Ion Beam Analysis, Shanghai, Chine, 8-13 octobre 2017, iba2017.com

Kossel diffraction observed with x-ray color camera during PIXE of nano-scale periodic multilayer

M.-Y. Wu, K. Le Guen, J.-M. André, P. Jonnard, I. Vickridge, D. Schmaus, E. Briand, P. Walter, Q.-S. Huang, Z.-S. Wang

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Le spectro-goniomètre MONOX (http://dx.doi.org/10.1051/epjap:2005047; http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01179271) de la plateforme "Réflectométrie et Spectroscopie X" est de nouveau opérationnel. Il permet de faire des mesures de réflectivité dans le domaine des rayons X mous, sur des films minces nanométriques. Ci-dessous, voici l'analyse d'une multicouche périodique Mo/B4C de 7 nm de période environ, faite à une énergie de photons de 930 eV et sur un domaine angulaire de 20°. Il est possible de mesurer des réflectances inférieures à 0,1%.

The MONOX spectro-goniometer  (http://dx.doi.org/10.1051/epjap:2005047; http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01179271) is working. It allows measuring reflectivity in the soft x-ray range, on nanometer-thick thin films. Below is the analysis of a Mo/B4C multilayer, 7 nm period, made with 930 eV photons and on a 20° wide angular range. It is possible to measure reflectances below 0.1%.


 

29/08/2017

Nous proposons 3 communications à la conférence / We propose 3 communications to the conference :

Ecasia'17, 17th Eur. Conf. on Applications of Surface and Interface Analysis, Montpellier, 24-29 septembre 2017, http://www.ecasia2017.com/

- Study of the Au-Cr bilayer system using x-ray reflectivity, GDOES and SIMS

P. Jonnard, M. H. Modi, K. Le Guen, N. Aneshwari, M. Sinha, M. Idir, P. Chapon, A. Galtayries

- Study of Pd/Y based multilayers with B4C barrier layers using high energy photoemission spectroscopy combined with x-ray standing waves

M.-Y. Wu, V. Ilakovac, J.-M. André, K. Le Guen, A. Giglia, J.-P. Rueff, Q.-S. Huang, Z.-S. Wang, P. Jonnard

- Depth analysis of Al/ZrC interfaces using SIMS and x-ray reflectivity techniques

M. H. Modi, M. Sinha, A. Bose, A. Singh, P. Jonnard

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28/08/2017

Nous venons de publier un article dans la revue Structural Dynamics / We have just published a paper in Structural Dynamics

EUV stimulated emission from MgO pumped by FEL pulses

P. Jonnard, J.-M. André, K. Le Guen, M.-Y. Wu, E. Principi, A. Simoncig, A. Gessini, R. Mincigrucci, C. Masciovecchio, O. Peyrusse

Struc. Dyn. 4, 054306 (2017) (http://dx.doi.org/10.1063/1.4993293)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01344717


27/06/2017

Nous venons de publier un article dans la revue European Physical Journal Applied Physics / We have just published a paper in European Physical Journal Applied Physics

Design, development and applications of etched multilayers for soft x-ray spectroscopy
K. Le Guen, R. Benbalagh, J.-M. André, J.-R. Coudevylle, P. Jonnard
Eur. Phys. J. Appl. Phys. 78, 20702 (2017) (8 pages) (https://doi.org/10.1051/epjap/2017160287)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01527456v1


08/03/17

Nous venons de publier un article dans la revue Surface and Interface Analysis / We have just published a paper in Surface and Interface Analysis

X-ray absorption spectroscopy study of buried Co layers in the Co/Mo2C multilayer mirrors
Y.-Y. Yuan, K. Le Guen, Y.-C. Tu, J.-T. Zhu, Z.-S. Wang, W.-B. Li, M.-W. Wen, C. Meny, H.-S. Yu, Y.-X. Huang, X.-J. Wei, P. Jonnard
Surf. Interf. Anal. 49, 205-209 (2017) (http://dx.doi.org/10.1002/sia.6116) http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01480541


La plateforme Réflectivité et Spectroscopie X est installée dans ses nouveaux locaux.
Ses deux instruments, MONOX (à gauche) et IRIS (à droite) sont en cours de remontage.
Les tests de fonctionnement démarreront dans peu de temps.

       

28/02/17

Nous venons de publier un article dans la revue Journal of Synchrotron Radiation / We have just published a paper in Journal of Synchrotron Radiation

Ultra-short and ultra-intense x-ray free-electron laser single pulse in one-dimensional photonic crystals
J.-M. André, P. Jonnard
J. Sync. Rad. 24, 376-385 (2017) (https://doi.org/10.1107/S1600577517000820) http://hal.upmc.fr/hal-01474782v1


05/01/17

Nous venons de publier un article dans la revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B
/ We have just published a paper in Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B

Kossel interferences of proton-induced x-ray emission lines in periodic multilayers
M.-Y. Wu, K. Le Guen, J.-M. André, V. Ilakovac, I. Vickridge, D. Schmaus, C. Burcklen, F. Bridou, E. Meltchakov, S. de Rossi, F. Delmotte, P. Jonnard
Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B386, 39-43 (2016) (http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.09.014) hal.archives-ouvertes.fr/hal-01374375 https://arxiv.org/abs/1612.02140